当前位置: 首页 期刊 《复旦学报(医学版)》 2004年第4期 编号:11034934 氢氧化钙糊剂的更换时间对年轻恒牙根尖形成的影响 http://www.100md.com 2004年8月1日 李远贵 石四箴 赵玉梅 第1页
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  [摘要] 目的 研究每1—2个月和5～6个月更换一次氢氧化钙对诱导死髓年轻恒牙根尖屏障形成的影响。方法 对29名患者41颗牙髓坏死的年轻恒双尖牙用氢氧化钙作根尖诱导成形术，将患牙随机分为A、B两组，分别每1～2个月(A组)和5～6个月(B组)更换一次氢氧化钙，每3个月拍X线片复查。根据临床检查和X线片，分析两组间根尖屏障形成的速度和位置的差异。结果 41颗牙都在21—65周后形成了根尖屏障，所需时间平均为40.17±11.89(周)，其中A组为31.05±5.13(周)，B组为49.75±9.03(周)，两组间有显著性差异(户0.05)。结论 氢氧化钙诱导年轻恒牙根尖屏障形成效果良好，应重视更换氢氧化钙的时间，间隔不宜过长，以使根尖屏障较早形成。

 [关键词] 氢氧化钙； 年轻恒牙； 根尖诱导成形术； 根尖屏障形成

 [中国图书馆分类法分类号] R781
 http://www.100md.com/html/paper/0257-8131/2004/04/18.htm
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