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摘要: [目的]调查上海市社区居民糖调节受损的流行病学特征,探讨糖耐量受损(IGT)、空腹血糖受损(IFG)的危险因素。[方法).对上海市13 495人展开IGT和IFC流行病学调查,适用单因素和多因素非条件logistic回归分析,探讨影响IGT、IFG发生的危险因素。[结果] ICT、IFG患病率为6.95%、1.75%(世界人口标化率为4.42%、1.03%),随着年龄的增加,IGT、IFG患病率逐步升高;进入多因素非条件logistic回归模型的因素有年龄、超重、肥胖、腰臀比(WHR)、三酰甘油(TG)、高血压、糖尿病家族史(P+8
文献标识码:A
http://www.100md.com/html/paper/1006-3617/2006/02/10.htm
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